新G5固態(tài)硬盤生產(chǎn)/老化測試系統(tǒng)

產(chǎn)品介紹

OVEN固態(tài)硬盤生產(chǎn)/老化測試系統(tǒng)提供全面的固態(tài)硬盤測試解決方案，涵蓋溫度控制、供電電壓腳本編程，支持多種SSD規(guī)格和協(xié)議，包括NVMe Ver2.0。擁有豐富的腳本庫、數(shù)據(jù)庫分析系統(tǒng)和可定制的LTWolf軟件。支持生產(chǎn)系統(tǒng)對接和數(shù)據(jù)管理，具備防火墻保護(hù)和成熟測試算法。

產(chǎn)品特點

• 全方位一體化固態(tài)硬盤測試解決方案;

• 溫度控制范圍 -10℃ to 85℃;

• 溫度變化速度 1℃/分鐘;

• 溫度均勻性土3℃(根據(jù)測試負(fù)載情況，可能會略有偏差);

• 支持PCIe Gen5 x4，支持 PCIe L1.1/L1.2 低功耗測試，支持128/256 DUTs 同測；

• 支持U.2、M.2、E3.S等SSD形態(tài)規(guī)格；

• 每個測試端口供電電壓可以腳本編程控制，控制范圍是0.6V - 14.5V，控制精度1mV;

• 支持SATA傳統(tǒng)協(xié)議，支持最新的NVMe Ver2.0 協(xié)議并支持用戶自定義NVMe 命令；

• 豐富的腳本庫，以及數(shù)據(jù)庫分析系統(tǒng)；

• LTWolf 軟件，可以根據(jù)客戶要求額外定制軟功能;

• 支持客戶生產(chǎn)MES系統(tǒng)對接，也可根據(jù)客戶定制生產(chǎn)數(shù)據(jù)管理系統(tǒng);

• 防火墻保護(hù)設(shè)計，測試電路與被測產(chǎn)品(DUT)完全隔離;

• 完善且成熟的測試算法 ，包括：EVT、DVT、 RDT、TVM等。